3．2X射線熒光光譜儀
X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。
樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。
無標(biāo)半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的最大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。
3．3激光粒度分析儀
光在傳播中，波前受到與波長尺度相當(dāng)?shù)南犊谆蝾w粒的限制，以受限波前處各元波為源的發(fā)射在空間干涉而產(chǎn)生衍射和散射，衍射和散射的光能的空間（角度）分布與光波波長和隙孔或顆粒的尺度有關(guān)。用激光做光源，光為波長一定的單色光后，衍射和散射的光能的空間（角度）分布就只與粒徑有關(guān)。對顆粒群的衍射，各顆粒級的多少決定著對應(yīng)各特定角處獲得的光能量的大小，各特定角光能量在總光能量中的比例，應(yīng)反映著各顆粒級的分布豐度。按照這一思路可建立表征粒度級豐度與各特定角處獲取的光能量的數(shù)學(xué)物理模型，進而研制儀器，測量光能，由特定角度測得的光能與總光能的比較推出顆粒群相應(yīng)粒徑級的豐度比例量。
四、電瓷產(chǎn)品生產(chǎn)工藝流程
4.1制泥
采用二次配料球磨，料：球：水=1：2：0．65，頭料加入礬土、長石和粘土A，細度控制63um篩的篩余為0．2%～0．3%，二料加入軟質(zhì)粘土，細度控制63um篩的篩余為0．8%～1．0%，球磨時間分別為：頭料8h～8．5h，二料1h～1．5h。新舊料漿配比為2：8～3：7，泥漿過孔徑lO0~m的振動篩4次，經(jīng)l+l×2遍電磁除鐵器除鐵，混合漿水分為55%～60%，篩余為0．35%～0．40%，榨泥壓力≯1．5MPa，單車每榨60min，雙車每榨80min～90min。泥餅水分：捧形絕緣子為18．5%～19．5%，瓷套為l7．5%～18．5%泥餅經(jīng)粗練陳腐48h后擠制。
