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GB/T 12085.21-2011 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第21部分:低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗(yàn)
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  • 授權(quán)方式:資料共享
  • v發(fā)布時(shí)間:2012-09-24 17:30:23
  • 資料類型:RAR
  • 資料大。89 KB
  • 資料分類:測(cè)繪工程
  • 運(yùn)行環(huán)境:WinXp,Win2003,WinVista,Win ;
  • 解壓密碼:civilcn.com
本部分規(guī)定了低壓與大氣溫度、高溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
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